Разработан и испытан метод исследования наноструктур без их разрушения

Андрей Васильков Автор: Андрей Васильков
Опубликовано 28.08.2012 в блоге автора (rss)

На кафедре физики и астрономии университета Шеффилда (Великобритания) под руководством Александра Тартаковского и Евгения Чеховича спектроскопию ядерно-магнитного резонанса впервые применили для исследования структуры и свойств полупроводниковых объектов нанометровых размеров.

Как инструмент неразрушающего анализа ЯМР используется давно, однако его применение для изучения ряда полупроводниковых структур было ограничено из-за возникновения деформационного квадрупольного уширения спектров ЯМР. Физики впервые смогли адаптировать метод к изучению полупроводниковых объектов наномасштабов.

Среди изучаемых наноструктур особый интерес представляют полупроводниковые квантовые точки (КТ). Движение электронов в них ограничено и обычно описывается серией дискретных энергетических уровней. КТ – многообещающие структуры для будущего компьютерного и телекоммуникационного оборудования на основе оптоэлектроники и квантовых эффектов.

Для успешной разработки таких устройств требуется детальная информация об их структуре и особенностях работы, связанных с возрастающим влиянием квантовых эффектов по мере уменьшения размеров изучаемых объектов.

До настоящего времени практически все методы структурного анализа подразумевали необратимое разрушение исследуемого образца, что не позволяло наблюдать их работу в динамике, а также удорожало и замедляло экспериментальную часть исследований.

Ещё в 2000 году было показано, что такой неразрушающий метод, как магнитотуннельная спектроскопия, может быть использован для получения информации о характере распределения плотности вероятности волновых функций электронов в КТ. Возможности нового адаптированного подхода на основе оптической ЯМР-спектроскопии шире, а сам метод более универсальный и перспективный.

В ходе первых экспериментов по изучению полупроводниковых квантовых точек методом ЯМР были получены новые сведения об их структуре. По словам авторов исследования, результаты оказались довольно неожиданными, и их дальнейший анализ может привести к изменению взглядов на природу и свойства этих наноструктур.

Темы: нанотехнологии, наука, оптоэлектроника, структурный анализ, Физика, ЯМР


Источник: http://feedproxy.google.com/~r/ct_news/~3/k5XeGHfisvU/38056

Читать комменты и комментировать

Добавить комментарий / отзыв



Защитный код
Обновить

Разработан и испытан метод исследования наноструктур без их разрушения | | 2012-08-28 13:07:00 | | Технологии и новости мира IT | | Автор: Андрей ВасильковОпубликовано 28.08.2012 в блоге автора (rss) На кафедре физики и астрономии университета Шеффилда (Великобритания) под руководством Александра Тартаковского и Евгения Чеховича спектроскопию ядерно-магнитного резон | РэдЛайн, создание сайта, заказать сайт, разработка сайтов, реклама в Интернете, продвижение, маркетинговые исследования, дизайн студия, веб дизайн, раскрутка сайта, создать сайт компании, сделать сайт, создание сайтов, изготовление сайта, обслуживание сайтов, изготовление сайтов, заказать интернет сайт, создать сайт, изготовить сайт, разработка сайта, web студия, создание веб сайта, поддержка сайта, сайт на заказ, сопровождение сайта, дизайн сайта, сайт под ключ, заказ сайта, реклама сайта, хостинг, регистрация доменов, хабаровск, краснодар, москва, комсомольск |
 
Поделиться с друзьями: